- Conférence et séminaire
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24 octobre 2025
11 h 00
UMR INRS-UQTR
X-1706
IRH, Pavillon Tapan-K.-Bose
Langue de la présentation : Français (Slides in english)
Professeur qui invite : François Allard, UMR INRS-UQTR
Résumé : Ce séminaire présentera le microscope électronique à balayage en transmission (STEM) SU-9000 d’Hitachi, qui permet de caractériser des échantillons minces et massifs avec des énergies de faisceau d’électrons comprises entre 0,1 et 30 keV. Ce microscope est équipé d’un détecteur de spectroscopie de perte d’énergie d’électrons (EELS) permettant la détection du lithium. Des images à haute résolution spatiale sont possibles avec une résolution de 0,16 nm. De nombreux exemples seront présentés sur les matériaux et nanomatériaux à base de lithium. Ce microscope est équipé d’un détecteur EDS pour le lithium (Extreme, Oxford Instrument), et la microanalyse des composés de lithium, très complexe et exigeante, sera également abordée. La préparation de couches minces par faisceau d’ions focalisés (FIB) pour des images à haute résolution spatiale en STEM sera également présentée avec le FIB Hitachi NX-5000.
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